美國磁通MAGNAFLUX干粉顯像劑ZP-4D

ZP-4D干粉顯像劑適用于經過滲透并烘箱干燥后的零部件。其優(yōu)勢在于能夠形成一層非常薄的膜附著在零件表面從而提高對其細小缺陷的檢測。

ZP-4D作為ZP-4B的換代產品能夠勝任ZP-4B所適用的所有方案，具有同樣優(yōu)秀的功能性和技術性能，同時作為新干粉顯像劑解決了其他干粉顯像劑固有的粉塵燃爆風險，為客戶提供更加安全可靠的使用環(huán)境。

ZP-4D已被列入AMS 2644合格產品目錄，并被普惠公司認證和使用，能夠滿足所有航天航空客戶及其他各行業(yè)客戶的需要。

產品優(yōu)勢

均勻且薄的顯像劑膜層

對細小缺陷出色的檢測能力

列入SAE AMS 2644合格產品目錄

普惠準入資格

符合規(guī)范

AECL

AMS 2644

AMS 2647

ASME

ASTM E1417

ASTM E165

Boeing BAC 5423 PSD 6-46 or 8-4

Boeing PS-21202

GE P3TF2

Honeywell EMS 52309

ISO 3452-2 

MIL-STD-2132

MIL-STD-271

Pratt & Whitney PMC 4356

QPL SAE AMS 2644

包裝形式 & 件號

5公斤桶 —— 01-3330-20C

美國磁通MAGNAFLUX干粉顯像劑ZP-4D 的應用范圍

缺陷位置： 表面開口缺陷

適用于：

鑄件

渦輪組件

關鍵部件

缺陷類型：

裂紋

裂縫

氣孔

使用建議

NDT 方法： 滲透檢測

類型： 類型1

顯像方式： 方式a 干粉